Тестируются. А конкрентое значение сильно зависит от технологии. В двух словах - стойкость флеши ничем не отличается от стойкости других типов ИС («Телесистемы»: Конференция «Микроконтроллеры и их применение»)

[an error occurred while processing this directive] Тестируются. А конкрентое значение сильно зависит от технологии. В двух словах - стойкость флеши ничем не отличается от стойкости других типов ИС

(«Телесистемы»: Конференция «Микроконтроллеры и их применение»)

Отправлено -=Shura=- 31 января 2006 г. 17:02
В ответ на: Ответ: Вам зачем такое надо? радиационная стойкость? на это коммерческие флеши кажется вообще не тестируются... отправлено <font color=gray>wwwitalik</font> 31 января 2006 г. 15:49

Составить ответ ||| Конференция ||| Архив

Ответы

не совсем так, обычно где-то на одну У меньше (на порядок) — Elektronik (31.01.2006 19:15 212.44.131.7, пустое)
- Собственно флешки не тестил, когда тестил МК обычно дуба давала не флеш-память. Внешний EEPROM тоже всегда выдерживал больше самого камня — -=Shura=- (01.02.2006 02:22 68.32.126.11, пустое)

Перейти к списку ответов ||| Конференция ||| Архив ||| Главная страница ||| Содержание

E-mail: info@telesys.ru