То есть как нештатное использование электронного компонента повлияет на средний срок его службы?
Что касается обратного пробоя: площадь перехода большая, ВАХ при пробое крутая - как бы не произошел локальный перегрев кристалла со всеми вытекающими. Тепловой режим кристалла вряд-ли считали и тестировали для этого режима. Нужно бы еще вспомнить, как зависит напряжение пробоя от температуры. :)