Разработка, производство и продажа радиоэлектронной аппаратуры
|
Карта сайта
|
Пишите нам
|
В избранное
Требуется программист в Зеленограде
- обработка данных с датчиков; ColdFire; 40 тыс.
e-mail:
jobsmp@pochta.ru
Телесистемы
|
Электроника
|
Конференция «Микроконтроллеры и их применение»
БОльшая там не столько площадь, сколько толщина подзатворного окисла, что замедляет деградацию
Отправлено
=AVR=
31 марта 2007 г. 23:15
В ответ на:
ну побайтовая запись пожалуй существенна. а большая полощадь что даст? емкость больше, и утечки пропорционально больше.
отправлено pau62 31 марта 2007 г. 23:12
Составить ответ
|
Вернуться на конференцию
Ответы
т.е. это практически другой техпроцесс.... теоретически - могет быть, практически- вряд ли.
—
pau62
(31.03.2007 23:19:4
212.26.247.215
,
пустое
)
Это абсолютно тот же техпроцесс, а в различиях характеристик Flash и EEPROM можешь убедиться по любому ДШ от АВР - у Flash 10K циклов, у EEPROM - 100K
—
=AVR=
(31.03.2007 23:25:27
80.92.96.19
,
пустое
)
дык буквовки я разбираю, и даже цифирки. однако не представляю техпроцеса, при котором толщина слоя диэлектрика (или окисла) может в несколько раз отличаться в пределах кристалла. скорее ресурс флеши умышленно занижают(в расчете на ячейку), имея ввиду блочную запись..
—
pau62
(31.03.2007 23:33:27
212.26.243.160
,
пустое
)
Отправка ответа
Имя*:
Пароль:
E-mail:
Тема*:
Сообщение:
Ссылка на URL:
URL изображения:
если вы незарегистрированный на форуме пользователь, то
для успешного добавления сообщения заполните поле, как указано ниже:
если прибавить четыре к четырём будет:
Перейти к списку ответов
|
Конференция
|
Раздел "Электроника"
|
Главная страница
|
Карта сайта
Web
telesys.ru